IRMA

La FĂ©dĂ©ration de Recherche CNRS 3095 « IRMA », Institut de Recherche sur les matĂ©riaux avancĂ©s, a Ă©tĂ© crĂ©Ă©e au 1er janvier 2008 par le CNRS, l’ENSICAEN, l’INSA de Rouen et les UniversitĂ©s de Caen et de Rouen. Elle a pour missions entre autres de faciliter le dĂ©veloppement de recherches communes entre les Ă©quipes de la fĂ©dĂ©ration, notamment sur les oxydes et matĂ©riaux Ă  propriĂ©tĂ©s remarquables, de dĂ©velopper et maintenir une plateforme technologique d’analyse et de caractĂ©risation microscopiques Ă  l’échelle ultime, par Microscopie Ă©lectronique en transmission et Sonde atomique, de niveau mondial.

Ci-dessous vous trouverez une liste concise des microscopes en accÚs via METSA, leurs spécificités techniques ainsi que les expertises scientifiques des personnels en charge des expériences.

Plus d'information peuvent ĂȘtre trouvĂ©es sur les sites ouĂšbes de la plateforme, ou en contactant le responsable.

 

MET Expérimentations Spécificités techniques et performances Expertises

JEOL ARM 200

20 jours accĂšs / an

 
  • HREM & HRSTEM corrigĂ©es
  • STEM-EDS atomique
  • 80 et 200 kV – CFEG
  • Correcteur image et sonde
  • STEM - HAADF (rĂ©solution 0.08 nm @ 200 keV) (rĂ©solution 0.136 nm @ 80 keV)
  • HREM (rĂ©solution 0.08 nm @ 200 keV) (rĂ©solution 0.136 nm @ 80 keV)
  • CamĂ©ras Gatan USC1000 + Orius 200
  • EDX Centurio (JEOL) avec diaphragmes dĂ©diĂ©s
  • P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double tilt N2
  • Cristallochimie sur poudre, films minces
  • Oxydes, intercroissances complexes
  • OxychalcogĂ©nures
  • ChalcogĂ©nures
  • Interfaces
  • Catalyse
  • MatĂ©riaux pour l'Ă©nergie
  • Nanoparticules

ZEISS NVision40

50 jours accĂšs / an

 
  • PrĂ©paration d’échantillons pointes pour analyse sonde
  • SEM FEG 200 V- 30 kV (RĂ©solution : 1.5 nm)
  • SystĂšme ’Dual Beam ‘
  • Colonne FIB Gallium SEIKO SII
  • Cabinet GIS avec Pt, W airlock
  • Manipulateur Kleindiek (Rotip)
  • DĂ©tecteurs SE-in lens, BSE in-lens, ions secondaires
  • EBSD NordlySS Oxford Instruments pour acquisitions 2D et 3D
  • DĂ©tecteur STEM
  • SystĂšme de dĂ©contamination Evactron
  • Flood gun
  • SystĂšme de compensation champ magnĂ©tique GATAN FCS 12

 

  • Imagerie SE, BSE et ionique
  • Analyse chimique EDS 2D et 3D
  • Analyse 3D-FIB
  • PrĂ©paration d’échantillon sur zone d’intĂ©rĂȘt (lame mince MET pointe de sonde atomique)
  • Application aux alliages mĂ©talliques, semi-conducteurs, isolants


SAT LAWATAP

50 jours accĂšs / an

 
  • Analyse chimique Ă  l’échelle atomique matĂ©riaux mĂ©talliques et mauvais conducteurs
 
  • DĂ©tecteur aDLD de 77mm
  • Laser Ă  longueur d'onde variable ( 1030nm, 515nm et 343nm)
  • TempĂ©rature Ă©chantillon : 18-100K
  • Haute rĂ©solution en masse
  • RĂ©solution latĂ©rale 0.3 nm
  • RĂ©solution en profondeur 0.09 nm
  • Semi-conducteurs
  • Verres
  • Oxydes
  • Isolants
  • Alliages mĂ©talliques

 

SAT CAMECA LEAP 4000 HR

50 jours accĂšs / an

 
  • Analyse chimique Ă  l’échelle atomique matĂ©riaux mĂ©talliques
 
  • Mode Ă©lectrique Local electrodeTM
  • limite de dĂ©tection 50 ppm
  • RĂ©solution en masse (Ă©chantillon Al) : FWHM = 1000
  • FrĂ©quence de pulse max. : 200 kHz
  • Vitesse d’acquisition maximale : > 2 M d’atomes / min
  • TempĂ©rature minimale : d’échantillon : 25 K
  • Champ de vision : ± 33°, environ 250 nm
  • Volume moyen analysĂ© : 150 × 150 × 500 nm3
  • Alliages mĂ©talliques

JEOL 2010

50 jours accĂšs / an

 
  • Cristallographie par les Ă©lectrons
  • Transitions de phase en tempĂ©rature
  • 200 kV – LaB6
  • Caméra Gatan Orius 200
  • EDX INCA
  • P.O simple tilt, P.O. double tilt, P.O. double tilt H2/N2/Chauffant
  • PrĂ©cession (systĂšme ASTAR)
  • Cristallochimie sur poudre, films minces
  • Oxydes, intercroissances complexes
  • OxychalcogĂ©nures
  • ChalcogĂ©nures
  • Interfaces
  • Catalyse
  • MatĂ©riaux pour l'Ă©nergie
  • Nanoparticules